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东芝谈无电容器DRAM的未来 微细化目标是32nm工艺

日期:2007-11-28    来源:华强电子世界  作者:华强电子世界

国际电力网

2007
11/28
01:49
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关键词: 电容器

  半导体元件与材料国际会议“2007 International Conference on Solid State Devices and Materials(SSDM)”于2007年9月19日在日本筑波开幕。

  在尖端内存技术云集的“Advanced Memory Technology”会议上,东芝受邀演讲,介绍了无需电容器的DRAM技术“FBC(Floating Body Cell)”的最新研发状况和今后的技术课题。

  FBC是在SOI(silicon on insulator)底板上形成的MOS晶体管浮体中积累电荷来保存数据的内存。其优点是无需传统DRAM的电容器,因此能够缩小内存单元面积,同时还易于应对未来的微细化要求。

  在此之前,东芝利用90nm工艺半导体技术证实,采用了面积为6F2的单元的FBC内存阵列可以通过简单的工艺和工序制造。并且为FBC内存单元制定了导入32nm工艺的微细化技术目标。东芝通过改进工艺,分别制造出逻辑和内存电路,通过选择性地为内存电路采用较浅的元件结构,提高了SOI效果,同时还在膜厚等方面进行了优化设计。因此能够在导入32nm工艺时保证必要的性能。

  东芝的目标是利用FBC替代单体DRAM和混载 DRAM。其中,有望较早实现的是替代混载DRAM。FBC目前存在的技术课题是数据保持时间仅为数十μs(最差时),比现有DRAM短2~3个数量级。如果是逻辑LSI混载用途,以这种短数据保持时间为前提,控制器电路只需做简单的改进即可完成刷新工作。另一方面,如果要替代单体DRAM,FBC的数据保持时间需要较现在有大幅延长。为此,东芝目前正在进行技术开发。

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